原子力显微镜集成了“非接触式工作模式”“智能扫描模式”“基于压电陶瓷堆积技术的平板扫描器”技术，并标配快速扫描模式，变速扫描模式，多种测量模式可选，被广泛用于半导体，LCD，LED，OLED，硬盘等工业领域。
　　原子力显微镜的技术特色：
　　1.采用非接触式工作模式：非接触测量模式，在不影响测量精度的前提下，可实现样品与针尖的非接触测量，避免了由于针尖磨损带来测量重复性差与探针磨损快的缺点。
　　2.探测器噪声水平低：Z轴探测器是显微镜的核心技术改进之一，新型应变传感器，凭借着超低噪声，检测原子台阶及其容易。
　　3.采用高性能平板扫描器：三轴分离的平板扫描器，在整个扫描范围内误差小。
　　4.操作极其简单：具有“智能扫描模式”，用户只需要选择扫描速度及扫描范围，系统即可自动调整反馈，无需寻找共振峰，无需调整反馈参数gain值。
　　5.具有中文，英文等多种操作界面，
　　6.预准直悬臂架，悬臂在装载时激光便已完成聚焦。自上而下的同轴视角可以轻松地找到激光光点。由于激光垂直照射在悬臂上，可以凭直觉旋动两个定位旋钮，将激光光点随着X轴和Y轴移动。这样，可以在激光准直界面中，轻易地找到激光并将其定位在PSPD上。只需要稍作调整实现信号的最大化，便可开始获取数据。
　　7.工业级别的XEA软件：具有自动识别，自动扫描，自动分析功能，大大节约了人工操作的误差及浪费的时间。
　　原子力显微镜在市场中竞争力最强，不但有着全行业最低的电流噪声，且增益范围也是最大，并且可实现电流快速扫描功能，是半导体测试电流的标准。